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＜図書＞
Contamination control in trace element analysis / Morris Zief, James W. Mitchell
(Chemical analysis ; v. 47)

出版者	New York : Wiley
出版年	c1976
本文言語	英語
大きさ	xiv, 262 p. : ill. ; 24 cm
著者標目	*Zief, Morris Mitchell, James W. joint author
件　名	LCSH:Trace elements -- Analysis  全ての件名で検索 LCSH:Contamination (Technology)
一般注記	"A Wiley-Interscience publication." Includes bibliographical references and index

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