---

＜図書＞
ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2)

出版者	東京 : 岩波書店
出版年	1985.5
本文言語	日本語
大きさ	x, 313p ; 22cm
著者標目	樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム>
件　名	NDLSH:集積回路
一般注記	参考書: p303-305

 類似資料