<図書>
Best practice for the TOEIC L&R Test / Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt, Michael Schauerte
出版者 | 東京 : 成美堂 |
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出版年 | 2022.1 |
本文言語 | 日本語 |
大きさ | vi, 106p ; 26cm |
著者標目 | 吉塚, 弘 <ヨシズカ, ヒロシ> Skerritt, Graham Schauerte, Michael, 1969- |
件 名 | BSH:英語 |
目次/あらすじ
所蔵情報を非表示
配架場所 | 資料種別 | 巻 次 | 請求記号 | 状 態 | 予約 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 指定図書 | 登録番号 |
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3F シラバスルーム | 図書 | Intermediate | 830.79//Y94 |
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9784791972531 |
|
禁帯出 | 木下 ひろみ(キノシタ) 先生 | 4202205098 |
書誌詳細を非表示
データ種別 | 図書 |
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別書名 | 奥付タイトル:TOEIC L&R Testへの総合アプローチ |
分 類 | NDC9:830.79 |
書誌ID | 2000145119 |
ISBN | 9784791972531 |
NCID | BC14648441 |
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