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Aberration-Corrected Analytical Electron Microscopy of Transition Metal Nitride and Silicon Nitride Multilayers
| 出版者 | : Linkopings Universitet |
|---|---|
| 出版年 | 2013 |
| 著者標目 | Fallqvist, Amie |
目次／あらすじ
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| 電子ブック | 配架場所 | 資料種別 | 巻 次 | 請求記号 | 状 態 | 予約 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 指定図書 | 登録番号 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 電子ブック | オンライン | 電子ブック |
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Ebook Central - Open Access Complete | 9789175194707 |
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電子リソース |
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SEB1394107 |
書誌詳細を非表示
| データ種別 | 電子ブック |
|---|---|
| 書誌ID | 4000986419 |
| ISBN | 9789175194707 |