<図書>
Applied logistic regression / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant
(Wiley series in probability and mathematical statistics)
版 | 3rd ed |
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出版者 | Hoboken, N.J. : Wiley |
出版年 | c2013 |
本文言語 | 英語 |
大きさ | xvi, 500 p. : ill. ; 25 cm |
著者標目 | *Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley Sturdivant, Rodney X. |
件 名 | LCSH:Regression analysis |
一般注記 | Series statement on cover: Wiley series in probability and statistics Includes bibliographical references (p. 459-478) and index |
目次/あらすじ
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配架場所 | 資料種別 | 巻 次 | 請求記号 | 状 態 | 予約 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 指定図書 | 登録番号 |
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数学図書室(図書) | 図書 | : [hardcover] | 417//H92 |
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9780470582473 |
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5201530581 |
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