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ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
(表面分析技術選書)
| Publisher | 東京 : 丸善 |
|---|---|
| Year | 1999.7 |
| Language | Japanese |
| Size | vii, 195p ; 21cm |
| Authors | 日本表面科学会 <ニホン ヒョウメン カガクカイ> |
| Subjects | 表面(工学上) イオンビーム 質量分析 |
TOC
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| Location | Media type | Volume | Call No. | Status | Reserve | Comments | ISBN | Printed | Restriction | Designated Book | Barcode No. |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 3F 図書 | 図書 |
|
428.4//N77 |
|
4621046233 |
|
|
|
5200040472 |
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| Material Type | Books |
|---|---|
| Classification | NDC:428.4 |
| ID | 1000194169 |
| ISBN | 4621046233 |
| NCID | BA42291413 |
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